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  • 品名: 激光粒度仪
  • 所属栏目: 粉体检测
  • 描述: GX--J2000型激光粒度仪是一种新型的粒度测试仪器,通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将...
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产品简介


GX--J2000型激光粒度仪是一种新型的粒度测试仪器,通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,即可获得准确的测试结果。它具有准确可靠、测试速度快、测试范围宽、重复性和真实性好、操作简便等突出特点。

 

应用领域


建材、化工、冶金、能源、食品、电子、地质、军工、航空航天、机械、高校、实验室,研究机构等。


 
 
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